หลักการและเหตุผล
       ในปัจจุบันความรู้ทางวิทยาศาสตร์เข้ามามีบทบาทในการวิจัยและพัฒนาเพื่อยกระดับการแข่งขันของภาคอุตสาหกรรม ส่งผลให้การวิเคราะห์ทดสอบได้เข้ามามีบทบาทแทนที่การลองผิดลองถูกในอดีต การวิเคราะห์ลักษณะเฉพาะของวัสดุเป็นการศึกษาคุณสมบัติของวัสดุด้วยเทคนิคที่หลากหลาย ผลวิเคราะห์จากเทคนิคเหล่านี้มักอยู่ในรูปแบบของภาพถ่ายหรือตัวเลข ซึ่งเป็นหลักฐานเชิงประจักษ์สำหรับเปรียบเทียบผลได้อย่างมีระบบ ซึ่งแต่ละเทคนิคมีรายละเอียดโดยสังเขปดังต่อไปนี้
       เทคนิคจุลทรรศน์อิเล็กตรอนแบบสแกนนิง หรือ SEM (Scanning Electron Microscopy) นิยมใช้เพื่อการศึกษาวัสดุโดยอาศัยการกวาดลำอิเล็กตรอนบนผิววัสดุนั้น แล้วนำสัญญาณที่ได้ เช่น สัญญาณอิเล็กตรอนทุติยภูมิและสัญญาณอิเล็กตรอนกระเจิงกลับไปสร้างเป็นภาพ ซึ่งภาพที่ได้จากกล้อง SEM เป็นภาพที่กําลังขยายสูง และสามารถแยกแยะรายละเอียดของภาพได้ถึง 100 นาโนเมตร และมีลักษณะเสมือน 3 มิติที่มีระยะชัดลึกสูง ทำให้สามารถระบุลักษณะของพื้นผิวของชิ้นงานได้อย่างชัดเจน นอกจากนี้สามารถวิเคราะห์องค์ประกอบธาตุของวัสดุได้ด้วยเทคนิคกล้อง SEM/EDS ซึ่งจะให้ข้อมูลบนพื้นผิวของชิ้นงานได้อย่างครบถ้วน แต่ในบางกรณีชิ้นงานบางลักษณะอาจจะต้องอาศัยทักษะในการเตรียมชิ้นงานร่วมด้วย เพื่อให้ได้ข้อมูลที่แม่นยำมากขึ้น
       ส่วนเทคนิคเอ็กซเรย์ซีที (X-ray CT/XCT) จะใช้ในการวิเคราะห์โครงสร้างวัสดุโดยทำการฉายเอกซเรย์ผ่านชิ้นงานที่วางอยู่บนแท่นวางชิ้นงานซึ่งสามารถหมุนได้ 360 องศา สัญญาณเอกซเรย์ที่ผ่านวัสดุ ณ มุมต่างๆ จะถูกตรวจจับด้วย Detector ที่มีระบบแปลงสัญญาณที่ได้รับเป็นสัญญาณดิจิตอลในรูปแบบภาพ 2 มิติ และแสดงผลทันทีบนจอคอมพิวเตอร์ของส่วนควบคุมเครื่องเอกซเรย์ซีที เมื่อสแกนจนครบ 360 องศาแล้วชุดภาพถ่าย 2 มิติของชิ้นงานที่ได้้จะถูกจำลองเป็นภาพโครงสร้าง 3 มิติ และสามารถวิเคราะห์ผลโดยใช้โปรแกรมคอมพิวเตอร์

       จากข้อมูลการใช้งานข้างต้น งานจุลทรรศน์และจุลวิเคราะห์ (MMS) ได้เล็งเห็นความสำคัญของการให้ความรู้แก่ภาคอุตสาหกรรม สถาบันการศึกษา และบุคคลทั่วไปที่มีความสนใจ จึงมีความประสงค์ในการจัดอบรมให้ความรู้เกี่ยวกับการใช้เทคนิคจุลทรรศน์อิเล็กตรอนแบบสแกนนิง และเทคนิคเอ็กซเรย์ซีที

วัตถุประสงค์
  1.สร้างความเข้าใจเบื้องต้นถึงองค์ประกอบและการใช้งานของเครื่องมือ XCT และ SEM
  2.ผู้อบรมได้เข้าใจขั้นตอนการเตรียมชิ้นงานเบื้องต้นสำหรับแต่ละเทคนิคและสามารถนำไปประยุกต์ใช้งานกับวัสดุต่างๆต่อไป
  3.สร้างความเข้าใจในการวิเคราะห์ทดสอบและเชื่อมโยงข้อมูลสำหรับตัวอย่างพื้นฐานและนำไปสู่การประยุกต์ใช้กับตัวอย่างที่มีความเฉพาะทางต่อไป
  4.สร้างทักษะและแรงบันดาลใจให้แก่ผู้ปฎิบัติงานกับเครื่องมือและผู้ที่ต้องการวิเคราะห์ทดสอบด้วยเทคนิคเหล่านี้

กลุ่มเป้าหมาย
  1.บุคลากรจากภาคอุตสาหกรรม ที่มีความสนใจในการวิเคราะห์วัสดุและผลิตภัณฑ์ ด้วยเทคนิคกล้องจุลทรรศน์แบบใช้แสง, เทคนิค X-Ray CT, SEM และการเตรียมชิ้นงานสำหรับเทคนิคเหล่านี้
  2.นักวิจัย คณาจารย์และนักศึกษาจากสถาบันการศึกษา
  3.บุคลากรที่เป็นผู้ปฏิบัติงานกับเครื่องมือและต้องทำการวิเคราะห์ผลเบื้องต้น

เนื้อหาในการบรรยาย ประกอบไปด้วย 3 ส่วนได้แก่
  1.หลักการ ส่วนประกอบ การใช้งาน ตัวอย่างการประยุกต์ใช้งานเทคนิค XCT
  2.หลักการ ส่วนประกอบ การใช้งานและตัวอย่างการประยุกต์ใช้งานเทคนิค SEM/EDS
  3.การเตรียมชิ้นงานสำหรับ OM, SEM และ XCT