การวิเคราะห์วัสดุด้วยเทคนิคจุลทรรศน์อิเล็กตรอนแบบส่องกราดและจุลวิเคราะห์ด้วยเอ็กซ์เรย์ และอิเล็กตรอนแบคสแกตเตอร์ดิฟแฟรกชัน
(Materials Characterization with Scanning Electron Microscopy,
Electron Backscatter Diffraction and X-Ray Microanalysis Techniques)

จัดโดย
ศูนย์เทคโนโลยีโลหะและวัสดุแห่งชาติ (เอ็มเทค)
สำนักงานพัฒนาวิทยาศาสตร์และเทคโนโลยีแห่งชาติ
กระทรวงวิทยาศาสตร์และเทคโนโลยี

 

ภาคบรรยาย 1 วัน: วันพุธที่ 15 สิงหาคม 2561
ภาคบรรยายและปฏิบัติ 3 วัน: วันที่ 15-17 สิงหาคม 2561

สถานที่ ห้องM120 อาคารเอ็มเทค อุทยานวิทยาศาสตร์ประเทศไทย จ.ปทุมธานี คลิกดู  แผนที่

หลักการและเหตุผล

การทำงานวิจัยและพัฒนาวัสดุ หรือการพัฒนาผลิตภัณฑ์และชิ้นส่วนต่างๆ ตลอดจนการวิเคราะห์ความเสียหายหรือตำหนิของชิ้นงานทั้งจากกระบวนการผลิตและการใช้งาน ล้วนต้องอาศัยองค์ความรู้ด้านวัสดุศาสตร์และวัสดุวิศวกรรมเพื่ออธิบายสมบัติหรืออธิบายพฤติกรรมของวัสดุ และเป็นที่เข้าใจว่าองค์ประกอบและลักษณะทางโครงสร้างทั้งในระดับมหาภาค (Macro) และในระดับจุลภาค (Micro) ของวัสดุแต่ละชนิดมีอิทธิพลโดยตรงต่อสมบัติและสมรรถนะของวัสดุนั้นๆ การศึกษาโครงสร้างของวัสดุจึงขาดเสียมิได้สำหรับผู้ที่ทำงานด้านนี้ โดยเฉพาะอย่างยิ่งโครงสร้างจุลภาคของวัสดุเพราะสมบัติของวัสดุส่วนใหญ่ขึ้นกับโครงสร้างในระดับนี้ ปัจจุบันมีเทคนิคการวิเคราะห์วัสดุหลายเทคนิคที่ใช้ในการวิเคราะห์ ในจำนวนเทคนิคต่างๆ มากมายนั้น เทคนิคจุลทรรศน์อิเล็กตรอนแบบส่องกรวด (Scanning Electron Microscopy (SEM)) นับว่าเป็นเทคนิคที่สำคัญเทคนิคหนึ่ง และเป็นเทคนิคที่นิยมใช้อย่างกว้างขวางทั้งในหน่วยงานวิจัยทั้งภาครัฐและเอกชน ภาคการศึกษา หน่วยงานของรัฐ และภาคเอกชนที่ดำเนินธุรกิจเกี่ยวกับอุตสาหกรรมการผลิตชิ้นส่วนต่างๆ ทั้งชิ้นส่วนอิเล็กทรอนิกส์ ชิ้นส่วนยานยนต์ อุปกรณ์ทางการแพทย์ สิ่งทอ และบรรจุภัณฑ์ เป็นต้น เนื่องจากเป็นเทคนิคที่ให้ข้อมูลพื้นฐานของโครงสร้างจุลภาคของวัสดุที่ชัดเจน จากการมองเห็นภาพจากการถ่ายภาพที่กำลังขยายสูง รวมไปถึงสามารถวิเคราะห์องค์ประกอบธาตุในบริเวณที่เราสนใจด้วยเทคนิคจุลวิเคราะห์ด้วยเอกซ์เรย์ (X-Ray (EDS&SXES) Microanalysis) ที่ติดตั้งกับเครื่อง SEM และเพื่อเพิ่มสักยภาพในการวิเคราะห์วัสดุในปัจจุบันมีการใช้เทคนิคอิเล็กตรอนแบคสแกตเตอร์ดิฟแฟรกชัน (Electron Backscatter Diffraction (EBSD) มาช่วยการวิเคราะห์วัสดุ ซึ่งเป็นเทคนิคที่ใช้กันมากในการวิเคราะห์เชิงลึกของวัสดุ ซึ่งเทคนิคนี้มีความสามารถในจำแนกโครงสร้างผลึกของวัสดุตลอดจนวิเคราะห์ทิศทางการจัดเรียงตัวของผลึกในบริเวณที่สนใจ ซึ่งติดตั้งกับกล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนแบบส่องกรวดเช่นเดียวกัน ซึ่งจะเป็นประโยชน์มากสำหรับงานวิจัยที่จะเกิดขึ้นในอนาคต

วัตถุประสงค์

การอบรมครั้งนี้จึงมีวัตถุประสงค์เพื่ออธิบายหลักการทำงานของเครื่อง SEM, EDS และ EBSD ทฤษฎีและปฏิบัติที่เกี่ยวข้องในการเกิดสัญญาณอิเล็กตรอนและรังสีเอ็กซ์ และการนำสัญญาณอิเล็กตรอนมาใช้ในการถ่ายภาพและการวิเคราะห์โครงสร้างจุลภาคของวัสดุด้วย EBSD และวิเคราะห์องค์ประกอบทางเคมีในบริเวณที่สนใจจากรังสีเอ็กซ์ที่เกิดขึ้น นอกจากนี้จะอธิบายทฤษฎีและปฏิบัติที่เกี่ยวข้องกับการเตรียมชิ้นงานตัวอย่างสำหรับการวิเคราะห์วัสดุด้วยเทคนิค SEM, EDS และ EBSD ซึ่งจะเป็นประโยชน์อย่างยิ่งสำหรับผู้ที่ใช้งาน และผู้ที่ทำหน้าที่ตรวจสอบหรือวิเคราะห์วัสดุ ตลอดจนผู้ที่นำผลวิเคราะห์ไปใช้

โปรแกรมการฝึกอบรม
– ภาคทฤษฎี รับสมัครจำนวนจำกัด 40 ท่าน อบรมวันพุธที่ 15 ส.ค. 61 เนื้อหาหลักประกอบด้วย
– SEM, EDS, SXES and EBSD (Theory)

– ภาคทฤษฎีและปฏิบัติ จำกัดเพียง 12 ท่านเท่านั้น อบรมวันที่ 15-17 สค. 61 รวม 3 วัน

– SEM, EDS, SXES and EBSD (Theory)
– Sample Preparation for SEM, EDS and EBSD Techniques(Theory and Operation)
– SEM, EDS, EXES and EBSD (Operation)

กลุ่มเป้าหมาย

1. ภาคอุตสาหกรรมที่ใช้เทคนิค SEM/EDS/EBSD ในการวิเคราะห์วัสดุ
2. นักวิจัย คณาจารย์จากสถาบันการศึกษาและหน่วยงานภาคการวิจัย
3. นักศึกษาระดับบัณฑิตศึกษา

วิทยากร

1. ดร. อัศสฎาวุฒิ ปาทาคำ
นักวิจัย ห้องปฏิบัติการเทคโนโลยีกระบวนการผลิตวัสดุผง หน่วยวิจัยโลหะ เอ็มเทค
มีประสบการณ์ในด้านการใช้เทคนิคจุลทรรศน์อิเล็กตรอนแบบส่องกราดมามากกว่า 10 ปี

2. คุณ วิยภรณ์ กรองทอง
ห้องปฏิบัติการวิเคราะห์เชิงฟิสิกส์ หน่วยวิเคราะห์ลักษณะเฉพาะของวัสดุ เอ็มเทค

3. คุณ วารุณี บวรเกียรติแก้ว
ห้องปฏิบัติการวิเคราะห์เชิงฟิสิกส์ หน่วยวิเคราะห์ลักษณะเฉพาะของวัสดุ เอ็มเทค

และ ทีมงานจากห้องปฏิบัติการจุลทรรศน์ เอ็มเทค

กำหนดการและหัวข้อการอบรม

15 สิงหาคม 2561 – SEM, EDS and EBSD (ภาคบรรยาย)

วิทยากร: คุณอัศสฎาวุฒิ ปาทาคำ

09.00-10.30    Introduction Scanning Electron Microscopy

                       Theory of Scanning Electron Microscopy

                       Ø  Vacuum System

                       Ø  Electron Gun

                       Ø  Electron Lens

10.30-10.45    Break

10.45-12.00    Theory of Scanning Electron Microscopy

                        Ø  Electron Beam Interaction with Specimen

                        Ø  Detector of SEM

                        §  Secondary Electron Detector

                        §  Backscatter Electron Detector

                        Ø  Environmental SEM

                        Ø Questions and Answers

12.00-13.00     Lunch

13.00-14.00     Theory Energy Dispersive  Spectrometry

                        Ø  Characteristic X-Ray

                        Ø  X-Ray Detector

                        §  EDS Detector

                        §  SXES Detector

                        Ø  Quantitative and Qualitative Analysis

                        Ø  X-Ray Mapping and Line Scan

                        Ø  Applications of SEM and EDS Technique

                        Ø  Applications of SXES Technique

14.00-14.15     Break

14.15-17.00     Theory of Electron Backscatter Diffraction (EBSD)

                         Application of Electron Backscatter Diffraction (EBSD)

                        Ø  EBSD Point Analysis

                        Ø  Orientation Imaging Microscopy (OIM)

                        Sample Preparation for EBSD Technique

                         Questions and Answers

16 สิงหาคม 2561 – Sample Preparation for EBSD Techniques (ภาคปฏิบัติ)

วิทยากร: คุณวารุณี บวรเกียรติแก้ว และคุณวิยภรณ์ กรองทอง

09.00-10.30     Principle of Sample Preparation

                        Ø Cutting

                        Ø Mounting

                        Ø Grinding

                        Ø Polishing

                        Ø Etching

10.30-10.45     Break

10.45-12.00     Principle Sample Preparation for SEM and EBSD Techniques

12.00-13.00     Lunch

13.00-14.30     Workshop of Sample Preparation for SEM and EBSD Techniques

14.30-14.45     Break

14.45-16.00     Workshop of Sample Preparation for SEM and EBSD Techniques

16.00-16.30     Questions and Answers

17 สิงหาคม 2561 – EBSD (ภาคปฏิบัติ)

วิทยากร: คุณวิยภรณ์ กรองทอง และ คุณอัศสฎาวุฒิ ปาทาคำ

9.00-10.30     Scanning Electron Microscopy Setting

                       Ø Electron Gun

                       Ø Electron Lens

                       Ø Vacuum

                      Operation of Energy Dispersive Spectrometry (EDS)

10.30-10.45    Break

10.45-12.00    Application of Energy Dispersive Spectrometry (EDS)

                       Ø EDS Point Analysis

                       Ø EDS Mapping

                       Ø EDS Line-scan

                       Applications of SXES Technique (SXES)

                        Questions and Answers

12.00-13.00     Lunch

13.00-14.00     Operation of Electron Backscatter Diffraction (EBSD)

                        Ø Exposure

                        Ø Gain

                        Ø Contrast & brightness

                        Ø EBSD Point Analysis

                        Ø Orientation Imaging Microscopy (OIM)

14.00-14.15     Break

14.15-17.00     Application of Electron Backscatter Diffraction (EBSD)

                        Questions and Answers

ค่าลงทะเบียน

ราคาปกติ
ภาคบรรยาย 1 วัน ราคา 3,000 บาท/ท่าน
ภาคบรรยายและปฏิบัติ รวม 3 วัน ราคา 8,000 บาท/ท่าน
ราคาพิเศษ หากท่านชำระค่าอบรมภายในวันที่ 1 ส.ค. 2561
ภาคบรรยาย 1 วัน ลดเหลือ 2,700 บาท/ท่าน
ภาคบรรยายและปฏิบัติ รวม 3 วัน ลดเหลือ 7,500 บาท/ท่าน

**โปรดชำระค่าลงทะเบียนภายในวันที่ 10 ส.ค. 2561**

หมายเหตุ
• อัตราค่าลงทะเบียนรวมค่าอาหารว่าง อาหารกลางวัน เอกสารประกอบการอบรม และภาษีมูลค่าเพิ่ม 7%
• ศูนย์เทคโนโลยีโลหะและวัสดุแห่งชาติ เป็นหน่วยงานของรัฐ จึงไม่อยู่ในเกณฑ์ที่ต้องหักภาษี 3%

การลงทะเบียน
• ลงทะเบียนผ่านเว็บไซต์ (สามารถเลือกสมัคร ภาคบรรยาย หรือ ภาคบรรยายและปฏิบัติ ได้ในระบบลงทะเบียน)


ลงทะเบียนออนไลน์ 

การชำระค่าลงทะเบียน
โอนเงินเข้าบัญชี ศูนย์เทคโนโลยีโลหะและวัสดุแห่งชาติ ธนาคารกรุงเทพ จำกัด (มหาชน) ประเภทออมทรัพย์
สาขาย่อยอุทยานวิทยาศาสตร์ เลขที่บัญชี 080-0-000846
(กรุณาส่งหลักฐานการโอนเงินมาที่อีเมล boonrkk@mtec.or.th )

สอบถามรายละเอียดเพิ่มเติมได้ที่
งานพัฒนากำลังคนด้านวัสดุศาสตร์ (คุณบุญรักษ์ หรือคุณพลธร)
ศูนย์เทคโนโลยีโลหะและวัสดุแห่งชาติ
โทรศัพท์ 0 2564 6500 ต่อ 4675, 4677
E-mail: boonrkk@mtec.or.th

Scroll Up