เทคนิค XRD ใช้ในการศึกษาโครงสร้างของสสารและวัสดุโดยอาศัยการเลี้ยวเบนของรังสีเอกซ์ ข้อมูลจากเทคนิคนี้ทำให้ทราบโครงสร้างผลึก แนวโน้มการเรียงตัวของผลึก ค่าเฉลี่ยขนาดผลึก ดีกรีความเป็นผลึก ความเครียด ความเค้นตกค้าง และความสมบูรณ์ของผลึก
ตัวอย่างที่สามารถวิเคราะห์ได้ เช่น ผง ของแข็ง ฟิล์มพอลิเมอร์ ฟิล์มบางระดับนาโนเมตร หรือของเหลวที่มีความเป็นผลึก
อุตสาหกรรมที่ใช้เทคนิคนี้ ได้แก่ ยานยนต์ พลาสติกและโลหะ เกษตรและอาหาร เซรามิกและวัสดุก่อสร้าง สี สารเคลือบและเคมีภัณฑ์ และเครื่องสำอาง ผลิตภัณฑ์สุขภาพและการแพทย์
- PANalytical, X’Pert PRO
Target type: Cu, Co
Tube voltage = 40 kV
Current = 30 mA
ระบบ Optic: Bragg–Brentano
ตัวอย่างที่วิเคราะห์ได้ ผง ของแข็ง ฟิล์มพอลิเมอร์
โหมดการทดสอบ วิเคราะห์เฟส - Rigaku TTRAX III
Target type: Cu
Tube voltage = 50 kV
Current = 300 mA
ระบบ Optic: Bragg–Brentano, Parallel-Beam
ตัวอย่างที่วิเคราะห์ได้ ผง ของแข็ง ฟิล์มพอลิเมอร์
ฟิล์มบางระดับนาโนเมตร
โหมดการทดสอบ วิเคราะห์เฟส, Grazing incidence diffraction, Small angle scattering, Nano particle analysis
Residual stress, Pole figure, Rocking curve, Reciprocal space mapping (RSM) - โปรแกรมวิเคราะห์ผล Jade Version 9.7
- ฐานข้อมูลรูปแบบการเลี้ยวเบนของวัสดุ ICDD
• วิเคราะห์ชนิดและปริมาณเฟส
• วิเคราะห์ขนาดผลึก
• วิเคราะห์ปริมาณความเป็นผลึก
• วิเคราะห์ลักษณะการจัดเรียงตัวของผลึก
• ศึกษาคุณภาพของผลึกเดี่ยวโดยใช้โหมด Rocking Curve (Omega scan)
1. ติดต่อสอบถามเจ้าหน้าที่เพื่อประเมินการทดสอบ การเตรียมตัวอย่าง รวมทั้งค่าบริการทดสอบ
2. กรอกแบบฟอร์มขอรับบริการ ส่งตัวอย่าง ชำระค่าบริการ
งานบริการลูกค้า โทร. 0 2564 6500 ต่อ 4109-4111 และ 4151
อีเมล: Xray@mtec.or.th
ศูนย์เทคโนโลยีโลหะและวัสดุแห่งชาติ 114 ถนนพหลโยธิน ต.คลองหนึ่ง อ. คลองหลวง จ. ปทุมธานี 12120
