








| เอ็มเทคจับมือ NEDOจัดสัมมนาBio-energy technology through the Research Cooperation ระหว่างไทย-ญี่ปุ่น (22 กุมภาพันธ์ 2553) 19 กุมภาพันธ์ 2553 ห้อง Grand Ballroom โรงแรมเซ็นจูรี่ พาร์ค กรุงเทพ ฯ รองศาสตราจารย์ ดร.ปริทรรศน์ ... รายละเอียด | |
| เอ็มเทคจัดสัมมนาเทคโนโลยีสะอาดยุทธศาสตร์การพัฒนาอุตสาหกรรมเซรามิกอย่างยั่งยืน (15 กุมภาพันธ์ 2553) เอ็มเทค ขอเชิญชวนผู้สนใจเข้าสัมมนาเรื่อง มีจำนวน 2 รอบ คือ รอบที่ 1 : วันพุธที่ 3 มีนาคม 2553 ณ... รายละเอียด | |
| นักวิจัยเอ็มเทครับรางวัลวิจัยจาก วช. (03 กุมภาพันธ์ 2553) 1 กุมภาพันธ์ 2553 ศูนย์แสดงสินค้าและนิทรรศการอิมแพค เมืองทองธานี ดร.คุณหญิงกัลยา โสภณพนิช รัฐมนตรีว่าการกระทรวงวิทยาศาสตร์และเทคโนโลยี ให้เกียรติเป็นประธานเปิดงานวันนักประดิษฐ์ ปี... รายละเอียด |
| อิเล็กโทรดวัดความชื้นสำหรับเมล็ดหรือเม็ดวัสดุที่มีรูปร่างไม่เป็นทรงกลม (26 กุมภาพันธ์ 2553) ในภาคการเกษตรซึ่งเป็นพื้นฐานสำคัญของประเทศไทยนั้น ความชื้นเป็นปัจจัยสำคัญในผลิตผลการเกษตร โดยเฉพาะผลิตผลประเภทเมล็ดที่จะส่งผลกระทบต่อการเก็บรักษาและคุณภาพ ซึ่งปัญหาของเกษตรกรไทยโดยส่วนใหญ่ คือ ขาดการใช้ข้อมูลเพื่อการตัดสินใจในการจัดการผลิตผล... รายละเอียด | |
| ฟิล์มโพลีเทคพลาสติกสำหรับคลุมโรงเรือน (26 กุมภาพันธ์ 2553) ฟิล์มโพลีเทคพลาสติก เป็นพลาสติกคัดกรองแสงสำคัญจากดวงอาทิตย์สำหรับคลุมโรงเรือนเพาะปลูก มีคุณสมบัติใหม่พิเศษสามารถลดการเพิ่มของอุณหภูมิภายในโรงเรือนได้ 1-3 องศาเซลเซียส ช่วยลดผลกระทบที่เกิดขึ้นจากภาวะโลกร้อน ผลิตขึ้นจากพอลิเมอร์ชนิด LDPE (Low Density... รายละเอียด | |
| วัสดุที่มีคุณสมบัติการคายประจุไฟฟ้า สำหรับภาชนะบรรจุชิ้นส่วนอิเล็กทรอนิกส์ (26 กุมภาพันธ์ 2553) วัสดุที่มีคุณสมบัติการคายประจุไฟฟ้ามีการใช้งานอย่างกว้างขวางในอุตสาหกรรมอิเล็กทรอนิกส์ ฮาร์ดดิสก์ไดรฟ์และเซมิคอนดักเตอร์ เนื่องจากวัสดุดังกล่าวสามารถคายประจุไฟฟ้าที่สะสมบนชิ้นงานได้ และช่วยป้องกันความเสียหายที่เกิดจากปรากฏการณ์ไฟฟ้าสถิตย์... รายละเอียด |
![]()
| เครื่อง DSC งดให้บริการชั่วคราว (08 มีนาคม 2553) เครื่อง DSC งดให้บริการชั่วคราวตั้งแต่วันที่ 8 - 19 มีนาคม 2553 รายละเอียด | |
| ห้องปฏิบัติการ XRD/XRF (02 มีนาคม 2553) เครื่อง X-ray Fluorescence (XRF) หยุดให้บริการตั้งแต่วันที่ 1 มีนาคม 2553 - 31 มีนาคม 2553 เนื่องจากจะทำการเปลี่ยนอุปกรณ์ภายในเครื่อง XRF รายละเอียด | |
| ห้องปฏิบัติการทดสอบสมบัติทางความร้อน (TA Lab) (22 มกราคม 2553) เครื่อง TGAไม่สามารถให้บริการได้ เนื่องจากอะไหล่ชำรุด คาดว่าจะให้บริการอีกครั้งได้ในเดือนกุมภาพันธ์ 2553 รายละเอียด |
![]()
| การทดสอบ Torsion (แรงบิด) ของห้องปฏิบัติการทดสอบสมบัติเชิงกล (05 กุมภาพันธ์ 2553) ข้อมูล ทั่วไป เครื่อง ทดสอบแรงบิด INSTRON Model 55MT2-E3 สามารถอ่านค่าได้สูงสุด ที่ 220 N-m (2,000 in-lb) ความเร็วสูง สุดในการทดสอบ 60 RPM ทำงานแบบหมุนทวนเข็มและตามเข็มนาฬิกา มีความละเอียดในการหมุน 0.168 arc-min ใช้งานร่วมกับโปรแกรม... รายละเอียด |