การวิเคราะห์วัสดุด้วยเทคนิคจุลทรรศน์อิเล็กตรอน
แบบส่องกราดและจุลวิเคราะห์ด้วยเอ็กซ์เรย์
และอิเล็กตรอนแบคสแกตเตอร์ดิฟแฟรกชัน
(Materials Characterization with Scanning Electron Microscopy,
Electron Backscatter Diffraction and X-Ray Microanalysis Techniques)

 

 

จัดโดย
ศูนย์เทคโนโลยีโลหะและวัสดุแห่งชาติ (เอ็มเทค)
สำนักงานพัฒนาวิทยาศาสตร์และเทคโนโลยีแห่งชาติ
 กระทรวงวิทยาศาสตร์และเทคโนโลยี

 

ภาคบรรยาย วันที่ 23 สิงหาคม 2560
ภาคบรรยายและปฏิบัติ รุ่นที่1 วันที่ 23-25 สิงหาคม 2560 *ขออภัย รุ่นที่1 ที่นั่งเต็มแล้ว โปรดสมัครรุ่น2 แทน*
ภาคบรรยายและปฏิบัติ รุ่นที่2 วันที่ 23, 29-30 สิงหาคม 2560
สถานที่ ห้องM120 อาคารเอ็มเทค อุทยานวิทยาศาสตร์ประเทศไทย จ.ปทุมธานี คลิกดู แผนที่

หลักการและเหตุผล

           การทำงานวิจัยและพัฒนาวัสดุ หรือการพัฒนาผลิตภัณฑ์และชิ้นส่วนต่างๆ ตลอดจนการวิเคราะห์ความเสียหายหรือตำหนิของชิ้นงานทั้งจากกระบวนการผลิตและการใช้งาน ล้วนต้องอาศัยองค์ความรู้ด้านวัสดุศาสตร์และวัสดุวิศวกรรมเพื่ออธิบายสมบัติหรืออธิบายพฤติกรรมของวัสดุ และเป็นที่เข้าใจว่าองค์ประกอบและลักษณะทางโครงสร้างทั้งในระดับมหาภาค (Macro) และในระดับจุลภาค (Micro) ของวัสดุแต่ละชนิดมีอิทธิพลโดยตรงต่อสมบัติและสมรรถนะของวัสดุนั้นๆ การศึกษาโครงสร้างของวัสดุจึงขาดเสียมิได้สำหรับผู้ที่ทำงานด้านนี้ โดยเฉพาะอย่างยิ่งโครงสร้างจุลภาคของวัสดุเพราะสมบัติของวัสดุส่วนใหญ่ขึ้นกับโครงสร้างในระดับนี้ ปัจจุบันมีเทคนิคการวิเคราะห์วัสดุหลายเทคนิคที่ใช้ในการวิเคราะห์ ในจำนวนเทคนิคต่างๆ มากมายนั้น เทคนิคจุลทรรศน์อิเล็กตรอนแบบส่องกรวด (Scanning Electron Microscopy (SEM)) นับว่าเป็นเทคนิคที่สำคัญเทคนิคหนึ่ง และเป็นเทคนิคที่นิยมใช้อย่างกว้างขวางทั้งในหน่วยงานวิจัยทั้งภาครัฐและเอกชน ภาคการศึกษา หน่วยงานของรัฐ และภาคเอกชนที่ดำเนินธุรกิจเกี่ยวกับอุตสาหกรรมการผลิตชิ้นส่วนต่างๆ ทั้งชิ้นส่วนอิเล็กทรอนิกส์ ชิ้นส่วนยานยนต์ อุปกรณ์ทางการแพทย์ สิ่งทอ และบรรจุภัณฑ์ เป็นต้น เนื่องจากเป็นเทคนิคที่ให้ข้อมูลพื้นฐานของโครงสร้างจุลภาคของวัสดุที่ชัดเจน จากการมองเห็นภาพจากการถ่ายภาพที่กำลังขยายสูง รวมไปถึงสามารถวิเคราะห์องค์ประกอบธาตุในบริเวณที่เราสนใจด้วยเทคนิคจุลวิเคราะห์ด้วยเอกซ์เรย์ (X-Ray (EDS&SXES) Microanalysis) ที่ติดตั้งกับเครื่อง SEM และเพื่อเพิ่มสักยภาพในการวิเคราะห์วัสดุในปัจจุบันมีการใช้เทคนิคอิเล็กตรอนแบคสแกตเตอร์ดิฟแฟรกชัน (Electron Backscatter Diffraction (EBSD) มาช่วยการวิเคราะห์วัสดุ ซึ่งเป็นเทคนิคที่ใช้กันมากในการวิเคราะห์เชิงลึกของวัสดุ ซึ่งเทคนิคนี้มีความสามารถในจำแนกโครงสร้างผลึกของวัสดุตลอดจนวิเคราะห์ทิศทางการจัดเรียงตัวของผลึกในบริเวณที่สนใจ ซึ่งติดตั้งกับกล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนแบบส่องกรวดเช่นเดียวกัน ซึ่งจะเป็นประโยชน์มากสำหรับงานวิจัยที่จะเกิดขึ้นในอนาคต

วัตถุประสงค์

           การอบรมครั้งนี้จึงมีวัตถุประสงค์เพื่ออธิบายหลักการทำงานของเครื่อง SEM, EDS และ EBSD ทฤษฎีและปฏิบัติที่เกี่ยวข้องในการเกิดสัญญาณอิเล็กตรอนและรังสีเอ็กซ์ และการนำสัญญาณอิเล็กตรอนมาใช้ในการถ่ายภาพและการวิเคราะห์โครงสร้างจุลภาคของวัสดุด้วย EBSD และวิเคราะห์องค์ประกอบทางเคมีในบริเวณที่สนใจจากรังสีเอ็กซ์ที่เกิดขึ้น นอกจากนี้จะอธิบายทฤษฎีและปฏิบัติที่เกี่ยวข้องกับการเตรียมชิ้นงานตัวอย่างสำหรับการวิเคราะห์วัสดุด้วยเทคนิค SEM, EDS และ EBSD ซึ่งจะเป็นประโยชน์อย่างยิ่งสำหรับผู้ที่ใช้งาน และผู้ที่ทำหน้าที่ตรวจสอบหรือวิเคราะห์วัสดุ ตลอดจนผู้ที่นำผลวิเคราะห์ไปใช้

โปรแกรมการฝึกอบรม
– ภาคทฤษฎี รับสมัครจำนวนจำกัด 40 ท่าน อบรมวันที่ 23 ส.ค. 60 เนื้อหาหลักประกอบด้วย 
– SEM, EDS, SXES and EBSD (Theory)

– ทฤษฎีและปฏิบัติ รับสมัคร 2 รุ่น จำกัดรุ่นละ 10 ท่านเท่านั้น

รุ่นที 1 อบรมวันที่ 23-25 สค. 60 รวม 3 วัน * ขออภัยรุ่นที่1 ที่นั่งเต็มแล้ว โปรดสมัครรุ่นที่ 2 แทน*

รุ่นที่ 2 อบรมวันที่ 23, 29-30 ส.ค. 60 รวม 3 วัน เนื้อหาหลักประกอบด้วย

– SEM, EDS, SXES and EBSD (Theory)
– Sample Preparation for SEM, EDS and EBSD Techniques(Theory and Operation)
 – SEM, EDS, EXES and EBSD (Operation)

กลุ่มเป้าหมาย

1. ภาคอุตสาหกรรมที่ใช้เทคนิค SEM/EDS/EBSD ในการวิเคราะห์วัสดุ
2. นักวิจัย คณาจารย์จากสถาบันการศึกษาและหน่วยงานภาคการวิจัย
3. นักศึกษาระดับบัณฑิตศึกษา

วิทยากร

1. ดร. อัศสฎาวุฒิ ปาทาคำ
นักวิจัย ห้องปฏิบัติการเทคโนโลยีกระบวนการผลิตวัสดุผง หน่วยวิจัยโลหะ เอ็มเทค
มีประสบการณ์ในด้านการใช้เทคนิคจุลทรรศน์อิเล็กตรอนแบบส่องกราดมามากกว่า 10 ปี

 

2. คุณ วิยภรณ์ กรองทอง
ห้องปฏิบัติการวิเคราะห์เชิงฟิสิกส์ หน่วยวิเคราะห์ลักษณะเฉพาะของวัสดุ เอ็มเทค

3. คุณ วารุณี บวรเกียรติแก้ว
ห้องปฏิบัติการวิเคราะห์เชิงฟิสิกส์ หน่วยวิเคราะห์ลักษณะเฉพาะของวัสดุ เอ็มเทค

และ ทีมงานจากห้องปฏิบัติการจุลทรรศน์ เอ็มเทค

กำหนดการและหัวข้อการอบรม

23 สิงหาคม 2560 – SEM, EDS and EBSD (ภาคบรรยาย) 

วิทยากร: คุณอัศสฎาวุฒิ ปาทาคำ

23/08/2017

Time

Details

ห้อง M120

9.00-10.30

·         Introduction Scanning Electron Microscopy

·         Theory of Scanning Electron Microscopy

Ø  Vacuum System

Ø  Electron Gun

Ø  Electron Lens

10.30-10.45

Break

10.45-12.00

·         Theory of Scanning Electron Microscopy

Ø  Electron Beam Interaction with Specimen

Ø  Detector of SEM

§  Secondary Electron Detector

§  Backscatter Electron Detector

Ø  Environmental SEM

·       Ø Questions and Answers

12.00-13.00

Lunch

13.00-14.00

Theory Energy Dispersive  Spectrometry

Ø  Characteristic X-Ray

Ø  X-Ray Detector

§  EDS Detector

§  SXES Detector

Ø  Quantitative and Qualitative Analysis

Ø  X-Ray Mapping and Line Scan

Ø  Applications of SEM andEDS Technique

Ø  Applications of SXES Technique

14.00-14.15

Break

14.15-17.00

·         Theory of Electron Backscatter Diffraction (EBSD)

·         Application of Electron Backscatter Diffraction (EBSD)

Ø  EBSD Point Analysis

Ø  Orientation Imaging Microscopy (OIM)

·      Sample Preparation for EBSD Technique

·      Questions and Answers

รุ่นที่ 1: 24 สิงหาคม 2560 / รุ่นที่2: 29 สิงหาคม 2560 – Sample Preparation for EBSD Techniques (ภาคปฏิบัติ)

วิทยากร: คุณวารุณี บวรเกียรติแก้ว และคุณวิยภรณ์ กรองทอง

24/08/2017

และ

29/08/2017

Time

Details

ห้อง M120 และ ห้อง M132

9.00-10.30

·      Principle of Sample Preparation

Ø  Cutting

Ø  Mounting

Ø  Grinding

Ø  Polishing

Ø  Etching

10.30-10.45

Break

10.45-12.00

·      Principle Sample Preparation for SEM and EBSD Techniques

12.00-13.00

Lunch

13.00-14.30

·      Workshop of Sample Preparation for SEM and EBSD Techniques

14.30-14.45

Break

14.45-16.00

·      Workshop of Sample Preparation for SEM and EBSD Techniques

16.00-16.30

·      Questions and Answers

รุ่นที่ 1: 25 สิงหาคม 2560 / รุ่นที่2: 30 สิงหาคม 2560  – EBSD (ภาคปฏิบัติ)

วิทยากร: คุณวิยภรณ์ กรองทอง และ คุณอัศสฎาวุฒิ ปาทาคำ

25/08/2017

และ

30/08/2017

Time

Details

หน้าเครื่อง

JSM 7800F

หน้าเครื่อง

S3400N

9.00-10.30

·         Scanning Electron Microscopy Setting

Ø  Electron Gun

Ø  Electron Lens

Ø  Vacuum

·         Operation of Energy Dispersive  Spectrometry (EDS)

10.30-10.45

Break

10.45-12.00

·         Application of Energy Dispersive  Spectrometry (EDS)

Ø  EDS Point Analysis

Ø  EDS Mapping

Ø  EDS Line-scan

·         Applications of SXES Technique (SXES)

·         Questions and Answers

12.00-13.00

Lunch

13.00-14.00

·         Operation of Electron Backscatter Diffraction (EBSD)

Ø  Exposure

Ø  Gain

Ø  Contrast & brightness

Ø  EBSD Point Analysis

Ø  Orientation Imaging Microscopy (OIM)

14.00-14.15

Break

14.15-17.00

·         Application of Electron Backscatter Diffraction (EBSD)

·         Questions and Answers

ค่าลงทะเบียน

ราคาปกติ
ภาคบรรยาย 1 วัน ราคา 3,000 บาท/ท่าน
ภาคบรรยายและปฏิบัติ รวม 3 วัน ราคา 7,000 บาท/ท่าน 
ราคาพิเศษ หากท่านชำระค่าอบรมภายในวันที่ 1 ส.ค. 60
ภาคบรรยาย 1 วัน ลดเหลือ 2,500 บาท/ท่าน
ภาคบรรยายและปฏิบัติ รวม 3 วัน ลดเหลือ 6,500 บาท/ท่าน

**โปรดชำระค่าลงทะเบียนภายในวันที่ 16 ส.ค. 60**

**รับสมัครจำนวน 50 ท่าน เท่านั้น**

หมายเหตุ
• อัตราค่าลงทะเบียนรวมค่าอาหารว่าง อาหารกลางวัน เอกสารประกอบการอบรม และภาษีมูลค่าเพิ่ม 7%
• ศูนย์เทคโนโลยีโลหะและวัสดุแห่งชาติ เป็นหน่วยงานของรัฐ จึงไม่อยู่ในเกณฑ์ที่ต้องหักภาษี 3%

การลงทะเบียน
 • ลงทะเบียนผ่านเว็บไซต์ (สามารถเลือกสมัคร ภาคบรรยาย หรือ ภาคบรรยายและปฏิบัติ ได้ในระบบลงทะเบียน)

การชำระค่าลงทะเบียน
• เงินสด / เช็ค สั่งจ่าย ศูนย์เทคโนโลยีโลหะและวัสดุแห่งชาติ 
• โอนเงินเข้าบัญชี ศูนย์เทคโนโลยีโลหะและวัสดุแห่งชาติ  ธนาคารกรุงเทพ จำกัด (มหาชน) ประเภทออมทรัพย์
สาขาย่อยอุทยานวิทยาศาสตร์ เลขที่บัญชี 080-0-000846
(กรุณาส่งหลักฐานการโอนเงินพร้อมระบุชื่อ, หน่วยงาน และหลักสูตรที่สมัครมาทางโทรสาร 0 2564 6369 หรือ อีเมล ponlathw@mtec.or.th )

• บัตรเครดิต โดยทำรายการผ่านหน้าเว็บไซต์ลงทะเบียน (เลือกวิธีชำระเป็นบัตรเครดิต)

สมัครและสอบถามรายละเอียดเพิ่มเติมได้ที่
งานพัฒนากำลังคนด้านวัสดุศาสตร์ (คุณพลธร)
ศูนย์เทคโนโลยีโลหะและวัสดุแห่งชาติ
โทรศัพท์ 0 2564 6500 ต่อ 4677 โทรสาร 0 2564 6369
E-mail: ponlathw@mtec.or.th

Scroll Up